Aparatura do badania interferencji i dyfrakcji /Apparatus for Interference Diffraction of Light/

242,43  z VAT

Aparat do badania zjawisk dyfrakcji i interferencji dla szczeliny pojedynczej oraz wielokrotnych.

Dostępność: 
SKU: TP6052

Funkcje i zastosowania: do badania zjawisk dyfrakcji i interferencji dla szczeliny pojedynczej oraz wielokrotnych. Moduł laserowy spełnia warunki doświadczeń i — po umieszczeniu elementów optycznych w przednim gnieździe przesuwanym lewo-prawo — wytwarza na ekranie wyraźne obrazy interferencyjne lub dyfrakcyjne. Z użyciem czujnika natężenia światła można mierzyć rozkład jasności i wyznaczyć długość fali; dane są prezentowane w czasie rzeczywistym na terminalu. Płytka interferencyjna zawiera szczelinę podwójną oraz układy trzy- i czteroszczelinowe o różnych szerokościach (do doświadczenia Younga oraz jego rozszerzeń). Płytki dyfrakcyjne obejmują: pojedynczą szczelinę, otwór kołowy, prostokątny, kwadratowy i trójkątny, pojedyńczy włos, przesłonę kołową oraz krawędź nożową, co umożliwia obserwację różnych figur dyfrakcyjnych. Dołączona miękka taśma miernicza 150 cm ułatwia pomiar odległości lasera i czujnika rozkładu natężenia na potrzeby obliczeń długości fali. Konfiguracja: ekran świetlny; laser; elementy optyczne (płytka interferencyjna, płytka dyfrakcyjna 1, płytka dyfrakcyjna 2); bateria „No.7” (AAA); polaryzatory ×2; taśma miernicza. Wymiary modułu: 85 mm × 50 mm × 60 mm. Masa: 0,154 kg.